LMS Test.Lab提供强大的高速多通道振动控制系统，用于航天试验的验证。这一振动控制系统能够扩展至数百个控制、试验与限值通道，用户将发现采用这一系统可以非常容易地完成常规随机、冲击、正弦和组合试验，并从中找到用于先进控制和数据分析所需的所有工具。
LMS Test.Lab环境试验软件与LMS SCADAS控制器硬件系统(内置24位ADC和DAC技术)配合使用，这一集成在最大程度上保证了安全性。
• 确保昂贵、特殊试件的安全与可靠
• 便捷易用的工作流程，提高工作效率
• 适应多种试验要求，包括MIL-STD 810
• 对试验进行全程控制，并可以在控制回路中独立进行并行测试
• 原型验证以支持设计与研发
LMS Test.Lab 正弦下凹控制和随机响应限值
LMS Test.Lab正弦下凹控制和LMS Test.Lab随机响应限值帮助用户在试验过程中有效地保护试验试件。当平均控制信号等级与参考谱相匹配时，试件上某些点却可能由于共振，发生很大的振动。响应限值是对任意通道(控制或测量)的振动量级设定辅助参考曲线，以最大程度保护试件。
组合模式
LMS Test.Lab正弦+随机(SoR)模块允许用户在预设好的随机目标谱里，设置高达10个固定和扫描正弦。LMS Test.Lab随机+随机(RoR)选项允许用户在预设好的随机目标谱里面，设置无限数量的固定和扫描窄带随机谱。LMS Test.Lab随机控制的两个选项都提供了更复杂的组合定义能力，通常称为正弦+随机+随机(SoRoR)。
LMS Test.Lab 冲击响应谱合成(SRS)
LMS Test.Lab冲击响应谱合成模块以重叠小波，重叠衰减正弦或猝发正弦的方式来合成符合用户设定的冲击响应谱时域波形。SRS模块无缝集成于冲击控制应用中。
LMS Test.Lab 任务综合
LMS Test.Lab任务综合能帮助用户基于试验得到的载荷数据来定义单轴随机和扫频正弦振动试验的试验规范。所合成的试验规范实施结果与实际损伤相同，并且压缩了运行时间。在工业标准，如GAM EG-13、MIL-STD 810F和NATO AECTP 200中所说明的试验裁剪方法用于实现这个目的。系统通过计算MRS(最大响应谱)和FDS(疲劳损伤谱)来分析多种加速载荷环境(在时域或频域中定义)，以得到潜在的疲劳损伤。
LMS Test.Lab MIMO 多轴随机控制
LMS Test.Lab MIMO多轴随机控制可同时控制多个信号源的输出，在MIMO闭环随机控制的同时，进行无限通道数的实时测量。它包括全部所需的参数设置和随机激励控制，以匹配多个振动激励时不同测点的预设功率密度(PSD)曲线。基于Smallwood算法，采用相位控制、交叉耦合补偿以及自适应控制，以实现解耦的XYZ MIMO振动台控制。
LMS Test.Lab 试验序列
LMS Test.Lab试验序列用于定义和实施一组闭环振动控制试验。为了顺利和自动执行批处理，应用程序支持组合所有试验模式(扫频正弦、随机和冲击)，执行、循环、暂停命令和多个自检选项。另外，能够自动运行MS Windows程序，以控制试验室中的其他设备，使功能试验、气候试验与振动试验同步，并使操作者通过电子邮件和短信了解试验进程。
LMS Test.Lab 正弦和正弦驻留控制下的时域信号记录
LMS Test.Lab正弦驻留控制以固定频率激励结构或者跟踪共振频率进行激振。可以预定义控制和响应幅值的中止判据以及驻留频率中止范围。用共振识别工具可以很容易的定义任意驻留频率顺序。LMS Test.Lab正弦和正弦驻留跟踪控制时的并行时域记录，可以在正弦和正弦驻留跟踪控制试验中进行时域数据的固定采样无间隔记录。并行记录时，用户可以通过参照最大扫描频率确定过采样来选择采样频率。所记录的时域数据可以用支持这种格式的后处理产品进行进一步处理。
LMS Test.Lab 单轴波形再现
LMS Test.Lab单轴波形再现通过几个简单的操作步骤就能将试车场数据加载到振动台上，并且使现有试验技术从传统的正弦、驻留、随机和冲击控制拓展到了长时间时域波形再现。基于MS Windows操作界面设计的软件简便易学，并可帮助操作者非常安全自动地进行长时间的试验，LMS Test.Lab基于用户的工作流程界面帮助用户完成整个试验。
LMS Test.Lab 离线正弦处理
LMS Test.Lab离线正弦处理可以在扫描正弦控制试验后，分析正弦激励下结构在不同点处的响应。在线正弦采集时存入硬盘中的时域数据可以进行离线再分析。需要COLA通道信号以准确确定正弦激励频率。
LMS Test.Lab 闭环声学控制
LMS Test.Lab声学控制提供了声学闭环控制的解决方案。可以按照用户预先设置好的倍频程谱根据控制策略对声音进行控制，以达到对试验机构进行声学激励的目的。
